HY-105DS創新型測控技術綜合實驗平臺

一、概述
1．創新型測控技術綜合實驗平臺能滿足傳感器與檢測技術課程群的實驗需求，并且具有占用空間小、掛箱設計規范、互換性強，從基本實驗到構成完整系統在一臺實驗裝置上便可以全部實現。避免了不同課程需要不同實驗裝置、占用空間大、難以構成完整系統、不方便實施綜合性和設計型實驗的麻煩。
2．能適應不同專業和不同層次的教學需要，可按不同需求選擇不同的配置，并可根據用戶的要求增添實驗掛箱。
3．實驗裝置能完成傳感器與檢測技術相關課程實驗，通過實驗能掌握各種傳感器原理、信號處理電路及檢測方法。
4．傳感器部分：包括壓力、壓電、應變、電容、霍爾、溫度、光敏、氣敏(酒、C0)、電渦流、光纖位移、長光柵位移、差動變壓器、光電耦合等各種常見傳感器。
5．檢測部分：利用工業實際中廣泛采用的成熟電路完成對各種傳感器信號的拾取、轉換、調理、采樣、存儲、解算、控制及顯示等處理電路，實驗裝置充分考慮抗干擾及可靠性技術的應用，學生可以學以致用。
6．通過使用本實驗平臺，有利于廣大學生對書本知識的理解和深化，在完成傳感器與檢測技術等一系列基本實驗后，便能掌握傳感器與檢測技術課程群所要求的基本原理、操作技能和動手能力。若再完成一個或幾個綜合型實驗，則對系統有一個較為全面的認識，形成基本的解決實踐問題的知識體系。如果能進一步完成設計型乃至創新型實驗，則將形成解決實踐問題的能力和積累解決實踐問題的經驗，進而培養其創新精神和創新能力。

二、特點
1．模塊化設計：采用標準的模塊化設計，增強系統的結構性和互換性。
2．總線標準：建立統一的內總線和接口約定，以實現最靈活的個性化配置、擴展和系統管理。
3．可更換的核心系統：為適應不同廠家的處理器、不同種類的處理器，通過改變系統核心卡來實現使用不同家族的單片機或者是不同種類的處理器(如MCU、DSP、ARM)等來組成系統。
4．快速連接線設計：提供三種連線方式
①采用金質縮緊孔單線接線；
②采用排線集中接線；
③自動免連線模式接線。各模塊在設計時均融入三種連線方式于設計過程。
5．一機多用：采用實驗現場與實驗準備室相結合的設計構思，在實驗裝置上僅配備最常用的模塊，在實驗裝置內放置次常用模塊，在實驗準備室中放置其他模塊。由此實現了該實驗裝置能夠實現一機多用、便于擴展和綜合的目標。
6．接近工程實際：實驗裝置上采用多種工業型傳感器，既可以用來完成傳感器原理、結構與調理電路的教學，也可以用解決工業工程和過程中的實際問題。
7．學以致用：構成實驗裝置中的智能儀器的各模塊，在其設計時充分體現實際系統的抗干擾設計技術和可靠性設計技術，其核心卡可作為實際智能儀器的核心單元。實驗裝置中信號轉換與信號調理電路采用工業和工程實際中所采用的成熟電路。實驗裝置中使用的各種數字信號處理方法，采用典型的也是未來實踐系統首選的數字信號處理手段，具有很強的工程實用特征。
8．持續發展：結合單片機、嵌入式單片、FPGA／CPLD、DSP及ARM知識可以將檢測系統或智能儀器提高到更高的層次。
9．智能儀器儀表設計：結合工程實際給出了一個將常規儀器實現智能化的實例。
1 0．虛擬儀器儀表設計：結合數據采集卡設計虛擬儀器儀表。
11．研究與創新能力培養：實驗裝置中選用的幾項綜合型實驗，是典型的檢測儀表或工業應用系統的微型化，既能夠使學習者領略檢測技術的典型應用和掌握成熟可靠的檢測系統的設計技術，又是培養和發揮學生創新能力、開展創新實驗的實驗平臺。
l 2．開放式設計：實驗裝置中的軟、硬件及系統均按照全開放的思想進行設計，以便于學生開展研究型和創新型的實驗。
1 3．最小知識單元：為每個模塊均可拆分到該知識層次的最小知識單元。
三、適用范圍
實驗臺主要針對高校大學生課程設計、畢業設計和電子設計競賽的開發平臺，體現了靈活、開放、創新、綜合、跨領域、跨專業的設計理念。其功能擴展模塊覆蓋了多個專業多門課程，適合電子類、通信類、自動化類、計算機類、機電類、測控儀器類等專業的學生進行綜合、創新設計。
四、結構簡介
本裝置由控制屏，實驗桌、活動掛箱及擴展模塊、實驗箱組成。實驗臺美觀大方，尺寸可選；活動掛箱包括CPU掛箱、接口掛箱、對象掛箱、ARM掛箱、DSP掛箱；其功能擴展模塊覆蓋了多個專業多門課程，包含CPU類、通用接口類、人機界面類、信號變換隔離類、通信類、執行機構類、傳感器類共40多項。
五、技術指標
1．輸入電源：單相三線220V±10％ 50Hz
2．工作環境：溫度10℃～+40℃相對濕度<85％(25℃) 海拔<4000m
3．絕緣電阻：大于3MΩ
4．漏電保護：漏電動作電流不大于30mmA，動作時間不大于0．1秒
5．裝置容量：<200VA
6．外形足寸：1620mm×680mm×1650mm。

六、實驗項目
(一)  傳感器實驗項目
(1)金屬箔式應變片一單臂電橋性能實驗  
(2)金屬箔式應變片一半橋性能實驗 
(3)金屬箔式應變片一全橋性能實驗 
(4)直流全橋的應用一電子秤實驗   
(5)交流全橋的應用一振動測量實驗 
(6)擴散硅壓阻壓力傳感器差壓測量實驗
(7)差動變壓器的性能實驗         
(8)激勵頻率對差動變壓器特性的影響實驗
(9)差動變壓器零點殘余電壓補償實驗  
(10)差動變壓器的應用一一振動測量實驗 
(11)電容式傳感器的位移特性實驗
(12)電容傳感器動態特性實驗    
(13)直流激勵時霍爾式傳感器的位移特性實驗
(14)交流激勵時霍爾式傳感器的位移特性實驗
(15)霍爾測速實驗 
(16)霍爾式傳感器振動測量實驗
(17)磁電式轉速傳感器的測速實驗
(18)壓電式傳感器振動實驗
(19)電渦流傳感器的位移特性實驗
(20)被測體材質、面積大小對電渦流傳感器的特性影響實驗
(21)光纖傳感器的位移特性實驗
(22)光電轉速傳感器的轉速測量實驗
(23)PTl0溫度控制實驗
(24)集成溫度傳感器AD590的溫度特性驗
(25)鉑電阻溫度特性實驗
(26)K型熱電偶測溫實驗
(27)E型熱電偶測溫實驗
(28)氣敏傳感器實驗
(29)濕敏傳感器實驗
(30)轉速控制實驗
選配模塊實驗：
（31）光柵尺測量實驗 
（32）光電編碼器實驗
（33）環境噪聲測量實驗
（34）光照強度測量實驗
（35）紅外反射式傳感器物件計數實驗
（36）色標傳感器顏色識別實驗
(二)單片機實驗項目
1、MCS-51單片機實驗項目：
軟件部分實驗：
1．清零程序
2．拆字程序
3．拼字程序
4．數據區傳送子程序
5．數據排序實驗
6．查找相同數據個數
7．無符號雙字節快速乘法子程序
8．多分支程序
9．多分支程序
10．電腦時鐘實驗
硬件部分實驗：
1．P1口亮燈實      
2．P1口轉彎燈實驗
3．P3.3口輸入，P1口輸出實驗            
4．工業順序控制實驗
5．8255 A、B、C口輸出方波實驗           
6．8255 PA口控制PB口
7．8255控制交通燈                       
8．簡單I/O擴展實驗
9．并行ADC 0809轉換實驗               
10．并行DAC 0832轉換實驗
11．8279鍵盤顯示實驗                   
*12.通用打印機實驗
13.微型打印機實驗                       
14.I2C儲存卡讀寫實驗
15.語音芯片ISD173控制實驗（錄音）      
16.語音芯片ISD1730控制實驗（放音）
17.繼電器控制實驗                       
18.步進電機控制
19.8253方波實驗                         
20.小直流電機調速實驗
21.16*16 LED點陣顯示實驗    
22.128*64 LCD液晶顯示實驗
23.8250可編程異步通訊接口實驗           
24.8251可編程通訊接口實驗
25.單片機RS232/485串行發送實驗         
26.單片機RS232/485串行接收實驗
27.DS18B20單總線溫度測量實驗   
28.紅外線遙控收發實驗
29.串行A/D TLC549轉換實驗
30.串行10位D/A TLC5615轉換實驗
31.PCF8563  I?C日歷時鐘實驗
32.MAX813看門狗實驗
33.PWM脈寬調制實驗
34.74LS164串并轉換
35.74LS165并串轉換                      
36.LM331 V/F轉換實驗
37.AT24C02  I2C總線存儲器讀寫實驗       
38.串行存儲芯片93C46讀寫實驗
39.電子音樂演奏實驗                      
40.CAN總線通訊接口實驗
41.以太網TCP/IP協議接口實驗
42.USB2.0通訊接口實驗
43.LM331 F/V轉換實驗                    
44.LM331 V/F轉換實驗
45.AD574 12位并行模數轉換實驗           
46.TLV5613 12位并行數模轉換實驗
47.4*4行列式鍵盤實驗                    
48.8位靜態顯示器實驗
49.8位動態顯示器實驗                    
50.光耦隔離模塊實驗
51.模擬十字路口交通燈實驗
2．嵌入式單片機(C8051)實驗
(1) 數字I／O口交叉開關設置實驗     
(2) UART串能通訊實驗
(3) 配置內部和外部振蕩器實驗        
(4) 片內模數轉換(ADC)實驗
(5) I／O輸入、輸出實驗    
(6) 片內數模轉換(DAC)實驗(7) 定時器實驗              
(8) SRAM外部數據存儲器擴展實驗
(9) 外部中斷實驗         
(10) SPI串行Flash存儲器數據讀寫實驗
(11) 計數器實驗
3．DSP實驗
 A、驗證性實驗
（1）CCS操作實驗
（2）存儲器實驗
（3）跑馬燈實驗
（4）數碼顯示實驗
（5）硬件中斷實驗
（6）定時器實驗
（7）步進電機控制實驗
（8）DSP同步串口與計算機的串口（RS232）通訊
（9）DSP的HPI與計算機的并口（EPP）通訊
（10）向量相加、減實驗
（11）矩陣相乘
（12）浮點數到Q15、Q15到浮點數數據轉換
（13）FIR濾波器實驗
（14）IIR濾波器實驗
（15）黑白圖像采集實驗
B、綜合性實驗：
（16）液晶顯示實驗
（17）簡單數字存儲示波器實驗
（18）同步串口（16位AD、DA）實驗
（19）HPI接口實驗
（20）自適應濾波器（DLMS）實驗
（21）卷積（convole）算法實驗
（22）自相關算法
（23）互相關算法
（24）語音錄、放實驗
（25）實時IIR濾波器實驗
（26）圖像處理之圖像取反
（27）圖像處理之灰度閾值變換
C、設計性實驗
（28）直流伺服電機測速控制實驗
（29）溫度傳感器、液晶顯示實驗
（30）HPI接口BOOTLOAD實驗
（31）在線FLASH燒寫及16或8位并行自舉
（32）快速傅立葉變換（FFT）算法實驗
（33）信號采集、存儲、傳輸（PC機與DSP）實驗
（34）溫度、速度雙閉環控制電機
（35）鍵盤輸入液晶顯示實驗
（36）語音FIR濾波（低通、高通、帶通、帶阻）實驗
（37）實時LMS濾波器實驗
（38）FFT實驗
D、創新性實驗
（39）聲控電機實驗
（40） 語音G711編碼、解碼實驗
（41）語音G723編碼、解碼實驗
（42）圖像處理之灰度窗口變換
（43）圖像處理之對比度增強
（44）YUV彩色圖象處理之圖象取反實驗
4．ARM9實驗項目
基礎實驗：
（1）安裝WINCE并建立開發環境      
（2） 建立并編譯WIN CE平臺      
（3）WINDOWS CE的燒寫   
（4）定制SDK并建立EVC下的開發環境   
（5）定制增強型內核   
（6）建立宿主機與實驗箱的連接      
（7）繼電器實驗   
（8） 蜂鳴器實驗   
（9）DIP實驗      
（10）IIC總線-溫度實驗   
（11） IIC總線-EEPROM實驗   
（12） IIC總線-DA實驗    
（13）EXTKEY中斷程序      
（14）GPIO LED實驗      
（15）LED點陣實驗      
（16）EVC下的HELLO WORLD實驗      
（17） 液晶屏壞點測試程序      
（18） 錄音機測試程序      
（19） 簡單聊天室程序（CE版）      
（20） 視頻點播VOD實驗 
（21）CEPLAYER播放器實驗      
（22） 串口通訊測試程序（對話框版）
擴展實驗：   
（23）485通訊程序      
（24） GPS實驗   
（25） 電機實驗   
（26） 射頻卡實驗      
（27） 攝像頭圖像采集實驗      
（28） GPRS實驗   
（29） ZIGBEE實驗      
（30） 指紋實驗   
（31） CAN總線通訊實驗   
 5．綜合類實驗
（1）鍵盤、LED發光管實驗
（2）行列式鍵盤、動態顯示實驗
（3）單片機控制的PWM實現D／A轉換 
（4）單片機控制PWM實現F/V轉換 
（5）測量電機轉速實驗
（6）單片機控制電機轉速實驗(D／A)
（7）單片機控制電機轉速實驗(PWM)
（8）溫度采集實驗
（9）IC卡原理實驗 
（10）考勤機實驗
（11）身份認證實驗
（12）門禁系統設計
（13）單片機實現Pc機鍵盤控制器實驗 
（14）用單片機實現高精度脈沖測頻
（15）單片機實現的線性V／F轉換實驗
（16）基于微機控制通信的單片機通用數據采集系統
（17）基于以太網的遠程數據采集系統
（18）IC系統實驗
（19）R8485總線實驗
（20）簡單多任務實時操作系統實驗
（21）智能家居遠程控制模擬系統設計
（22）單片機以太網實驗
（23）遠程抄表系統
（24）基于USB的數據采集卡設計
（25）家庭智能報警系統
 6．信號與系統部分
（1）基本運算單元實驗
（2）階躍響應與沖激響應實驗
（3）連續時間系統的模擬實驗
（4）有源、無源濾波器實驗
（5）抽樣定理與信號恢復實驗
（6）二階網絡狀態軌跡的顯示實驗
（7）一階電路的暫態響應實驗
（8）二階電路的暫態響應實驗
（9）二階電路傳輸特性實驗
（10）二階網絡函數的模擬實驗
（11）矩形脈沖信號的分解實驗
（12）矩形脈沖信號的合成實驗
（13）諧波幅度對波形合成的影響實驗
（14）面包板單元，可自行設計實驗電路。
 7．自控原理與計算機控制
（1）計算機控制技術實驗項目
（1）A/D，D/A轉換
（2）采樣保持器
（3）數字濾波 
（4）積分分離式PID控制
（5）最小拍有紋波系統實驗
（6）最小拍無紋波系統實驗
（7）大林算法控制
（8）非線性控制
（9）解耦控制
（10）綜合控制實驗
（2）自動控制原理實驗項目
1.典型環節的模擬研究                  
2. 典型系統瞬態響應和穩定性
3.系統校正                            
4. 控制系統的頻率特性
5.典型非線性環節
6. 非線性系統（一）
7.非線性系統（二）  
8. 采樣系統分析
9.采樣控制系統的校正    
l0. 狀態反饋（極點配置）
（3）控制系統實驗項目
1.直流電機閉環調速實驗
2.溫度閉環控制實驗
3.步進電機調速實驗
8．測控電路實驗
1．差動放大器實驗；                  
2.信號放大器實驗；
3.信號運算電路實驗；                 
4.電壓比較器實驗；
5.電阻鏈分相細分實驗；               
6.幅度調制及解調實驗
7.調相電橋實驗；
8.脈寬調制電路實驗；
9.調頻及鑒頻實驗； 
11.開關式相乘調制及解調實驗；  
12.精密整流全檢波實驗；
13.開關式全波相敏檢波實驗。
七、配置清單：

序號	名稱	單位	數量	備注
1	實驗控制屏	套	1
2	實驗桌	張	1
3	實驗模塊掛箱	套	1	傳感器由多種傳感器和信號調理模塊
				控制器單元掛箱
				信號轉換單元掛箱
				通信與打印機單元掛箱
				鍵盤與顯示單元掛箱
				對象控制單元掛箱（一）
				對象控制單元掛箱（二）
				Cortex-A8 單元掛箱
				信號與系統實驗掛箱
				自控原理與計算機控制掛箱
				測控電路實驗掛箱模塊
				DSP CPU 掛箱
4	常用工具	套	1	一字螺絲刀 1 把；十字螺絲刀 1 把；剝線鉗 1 把；尖嘴鉗 1 把。
5	實驗說明書	套	1	指導學生實訓

相關產品